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低溫環(huán)境XRD是一種常用的材料研究手段，可以用于檢測材料的晶體結(jié)構(gòu)、物相組成、晶格缺陷等信息。原理基于物質(zhì)在低溫下會發(fā)生晶格結(jié)構(gòu)的變化，這種變化可以通過X射線衍射分析來檢測。具體而言，當物質(zhì)受到X射線照射時，X射線會穿過物質(zhì)并產(chǎn)生衍射。衍射信號的強度取決于物質(zhì)的晶體結(jié)構(gòu)，晶體結(jié)構(gòu)的變化會導致衍射信號的強度發(fā)生變化。通過對衍射信號的分析，可以推斷出物質(zhì)的晶體結(jié)構(gòu)、物相組成、晶格缺陷等信息。在材料科學領(lǐng)域有廣泛的應(yīng)用。例如，在陶瓷材料、高分子材料、金屬材料等領(lǐng)域，低溫環(huán)境下X射線...

原子力顯微鏡AFM是一種可用來研究包括絕緣體在內(nèi)的固體材料表面結(jié)構(gòu)的分析儀器。利用微懸臂感受和放大懸臂上尖細探針與受測樣品原子之間的作用力，從而達到檢測的目的，具有原子級的分辨率。主要用途：材料表面形貌的觀察和分析；對生物細胞的表面形態(tài)觀察；生物大分子的結(jié)構(gòu)及其他性質(zhì)的觀測研究；生物分子間力譜曲線的觀測。原子力顯微鏡受工作環(huán)境限制較少，它可以在超高真空、氣相、液相和電化學的環(huán)境下操作。（1）真空環(huán)境：最早的掃描隧道顯微鏡（STA）研究是在超高真空下進行操作的。后來，隨著AFM...

鎢燈絲電鏡(TungstenFilamentElectronMicroscopy，WEM)是一種常見的透射電鏡(TEM)，利用結(jié)晶或非晶樣品所產(chǎn)生的散射證據(jù)來分析材料結(jié)構(gòu)。電子束被放射出來，經(jīng)過聚焦實現(xiàn)功能的集成電路(ASIC)后聚焦到樣品上，然后在樣品上發(fā)生彈性和非彈性碰撞。不同反射角度的電子會產(chǎn)生不同強度的暗場和亮場效果，提供了微觀結(jié)構(gòu)的信息。如何使用鎢燈絲電鏡？1.準備完整設(shè)備，將標本拍攝模塊安裝到鎢絲爐板下方。2.使用純酸和去離子水清洗標本，防止在取樣時污染標本。3....

激光器是受激輻射被放大的光的簡稱，現(xiàn)在主要用來表示基于激光器原理產(chǎn)生光的器件。有些特定的情況下，也指激光振蕩器，或者指包含激光放大器的器件。激光器技術(shù)是光子學領(lǐng)域的核心技術(shù)，一般由三個部分組成：1.工作物質(zhì)這是激光器的核心，只有能實現(xiàn)能級躍遷的物質(zhì)才能作為激光器的工作物質(zhì)。目前，激光工作物質(zhì)已有數(shù)千種，激光波長已由x光遠至紅外光。例如氦氖激光器中，通過氦原子的協(xié)助，使氖原子的兩個能級實現(xiàn)粒子數(shù)反轉(zhuǎn)；2.激勵能源（光泵）它的作用是給工作物質(zhì)以能量，即將原子由低能級激發(fā)到高能級的...

臺式掃描電子顯微鏡主要由電子光學系統(tǒng)、信號收集處理系統(tǒng)、真空系統(tǒng)、圖像處理顯示和記錄系統(tǒng)、樣品室樣品臺、電源系統(tǒng)和計算機控制系統(tǒng)等組成。利用電子和物質(zhì)的相互作用，圖像為立體形象，次級電子由探測體收集，并在那里被閃爍器轉(zhuǎn)變?yōu)楣庑盘?，重金屬在電子束的轟擊下發(fā)出次級電子信號，其中包括彈性背反射電子和非彈性背反射電子。具有超高分辨率，能做各種固態(tài)樣品表面形貌的二次電子像、反射電子象觀察及圖像處理，利用二次電子成像原理，在鍍膜或不鍍膜的基礎(chǔ)上，低電壓下通過在納米尺度上觀察生物樣品如組織...

熒光光譜儀又稱熒光分光光度計，是一種定性、定量分析的儀器。通過熒光光譜儀的檢測，可以獲得物質(zhì)的激發(fā)光譜、發(fā)射光譜、量子產(chǎn)率、熒光強度、熒光壽命、斯托克斯位移、熒光偏振與去偏振特性，以及熒光的淬滅方面的信息。ISSPC1熒光光譜儀是一款高靈敏度，高集成，計算機控制的光子計數(shù)熒光光譜儀，廣泛應(yīng)用于物理化學，生物化學，生理學，神經(jīng)化學，分子生物，環(huán)境分析和免疫測定等科研領(lǐng)域。主要特征:1、高靈敏度緊湊化設(shè)計，優(yōu)化光路，以便樣品采樣室內(nèi)能接受到ZEI大的激發(fā)光照。緊湊集成設(shè)計使得儀器...

高溫環(huán)境XRD管實質(zhì)上是一個真空二極管。工作原理：給陰極加上一定的電流被加熱時，便能放出熱輻射電子。在數(shù)萬伏特高壓電場的作用下，這些電子被加速并轟擊陽極(又被稱為靶)。陽極靶面上受電子束轟擊的焦點呈細長的矩形狀(稱線焦點或線焦斑)，從射線出射窗中心射出的X射線與靶面的掠射角為3°-6°。從出射方向垂直焦斑長邊的兩個出射窗口觀察，焦斑呈線狀的稱為線光源；從另外兩個出射窗口觀察，焦斑如點狀稱為點光源。在衍射儀每次安裝管子時，辨別所使用X射線出射窗口是否為線焦點方向。此外，還要求測...